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國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器簡(jiǎn)介:
X射線熒光(XRF)技術(shù)是當(dāng)今*主要的分析測(cè)試技術(shù)之一,具有元素范圍廣(B-U)、動(dòng)態(tài)范圍寬(ppm-****)、檢出下限低、精度高、速度快、自動(dòng)化、無(wú)損測(cè)試、制樣簡(jiǎn)單、多元素同時(shí)測(cè)定等諸多優(yōu)點(diǎn),與ICP-AES、ICP-MS并稱無(wú)機(jī)多元素測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域的三大支柱。
在科技部**重大科學(xué)儀器專項(xiàng)(2012YQ050076)的支持下,針對(duì)金屬、建材、地質(zhì)、環(huán)境、礦產(chǎn)等領(lǐng)域?qū)o(wú)機(jī)元素分析技術(shù)的需求,廠家先后攻克了X射線源、分光光路系統(tǒng)、探測(cè)器等關(guān)鍵技術(shù),成功研制了順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。
基于國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808,納克與**地質(zhì)實(shí)驗(yàn)測(cè)試中心等多家**測(cè)試機(jī)構(gòu)合作,**了適合各行業(yè)的分析測(cè)試方法,建立了針對(duì)金屬、地質(zhì)、建材、環(huán)境、礦物等領(lǐng)域多種類型樣品的方法體系。
國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808應(yīng)用領(lǐng)域:
地質(zhì)樣品領(lǐng)域:
CNX-808針對(duì)地質(zhì)領(lǐng)域壓片和熔片兩類樣品分別**了應(yīng)用方法體系,可以為地質(zhì)研究、找礦提供可靠的檢測(cè)數(shù)據(jù)。
建材樣品領(lǐng)域:
國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808針對(duì)多種建材樣品的分析需求,建立了水泥、涂料等樣品應(yīng)用方法體系,實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的高精度分析。
新材料樣品領(lǐng)域:
CNX-808能夠解決新材料研究領(lǐng)域?qū)挿o(wú)損、全元素分布分析的難題。
生態(tài)環(huán)境領(lǐng)域:
CNX-808針對(duì)生態(tài)環(huán)境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求,建立了整體的解決方案。通過(guò)研究不同時(shí)期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征,為環(huán)境評(píng)價(jià)提供可靠的指標(biāo)參數(shù)。
國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器特點(diǎn):
高穩(wěn)定高精度X射線源:
4kW大功率高壓發(fā)生器,**更低的檢測(cè)下限和更快的分析速度;優(yōu)化的功率自動(dòng)調(diào)節(jié)程序,能夠快速調(diào)整功率,監(jiān)控X射線管狀態(tài),提高使用壽命;一體化冷卻水機(jī),提供對(duì)X射線管更可靠的保護(hù)。
優(yōu)良的光路設(shè)計(jì):
光程短,有利于獲得更大的計(jì)數(shù)率。提供*多10組濾光片、10組光闌、4組初級(jí)準(zhǔn)直器、10組分光晶體的配置。
波譜能譜復(fù)合功能(選配)
波譜能譜復(fù)合可以提高數(shù)據(jù)質(zhì)量和檢測(cè)速度,選配的SDD探測(cè)器,提供更加靈活的分析手段,兩種功能深度復(fù)合。分布分析時(shí),可以根據(jù)實(shí)際需求,任選一種探測(cè)器。
可靠的高精度測(cè)角儀:
θ/2θ單獨(dú)驅(qū)動(dòng),測(cè)角儀采用成熟可靠的傳動(dòng)和反饋技術(shù),在**性能優(yōu)異的同時(shí),具有可靠性高、使用壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)。
便捷強(qiáng)大的分析測(cè)試軟件:
界面友好,操作便捷,內(nèi)置多種算法,全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程,滿足定量定性分析需要。
國(guó)產(chǎn)順序式波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀CNX-808儀器參數(shù):
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀指標(biāo) |
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硬件配置 |
高壓發(fā)生器 |
*大電壓:60kV |
*大電流:150mA |
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*大功率:4kW |
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長(zhǎng)期穩(wěn)定度:0.01% |
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X射線管 |
端窗 |
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可選靶材:Rh、Cu、Mo、W、Cr、Pt |
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鈹窗厚度:75μm/50μm可選 |
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自動(dòng)進(jìn)樣器 |
1位/48位可選,機(jī)械手自動(dòng)進(jìn)樣系統(tǒng) |
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樣品尺寸 |
固體,*大φ50mm*H30mm |
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樣品臺(tái) |
*坐標(biāo)定位、帶自旋功能 |
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初級(jí)濾光片 |
Ti、Zr、Cu、Al等多種材質(zhì)和厚度可選,*多可配10片 |
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光闌 |
φ35,30,25,20,10,3,1,0.5mm及衰減器 |
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初級(jí)準(zhǔn)直器 |
150、300、500、750、3000μm可選,做多可配4種 |
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測(cè)角儀 |
θ-2θ獨(dú)立驅(qū)動(dòng) |
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掃描范圍:SC(1-118°)、PC(10-148°) |
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步進(jìn)角度:0.001°、0.002°、0.005°、0.01°、0.02°、0.05°、0.1° |
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角度重復(fù)性:±0.0005° |
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角度精度:±0.0005° |
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分光晶體 |
10位晶體交換器,liF200、LiF220、PET、Ge、多層膜晶體等可選 |
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探測(cè)器 |
閃爍體計(jì)數(shù)器(SC)、正比式流氣計(jì)數(shù)器(F-PC) |
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恒溫器 |
36.5±0.1℃ |
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真空系統(tǒng) |
分析室和進(jìn)樣室雙真空 |
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選配件 |
分析室充He氣系統(tǒng)(分析液體樣品的氣氛) |
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能譜探測(cè)器SDD,可與波譜復(fù)合使用,提高檢測(cè)效率 |
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樣品CCD照相系統(tǒng),配合分布分析使用 |
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儀器指標(biāo) |
達(dá)到《JJG 810-1993 波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀檢定規(guī)程》A級(jí) |